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激光粒度儀測試時合適的遮光度是至關重要的!

更新時間:2017-08-09

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激光粒度儀可進行從納米到微米量級如此寬范圍的粒度分布。約為:20nm——2000 μ m,某些情況下上限可達3500μm;由于儀器使用過程中無須更換鏡頭及調整光學系統,提高了系統的穩定性,簡化了操作過程。激光粒度儀能夠自動完成數據采集、分析處理、結果保存、打印等功能,操作簡單,自動化程度高。
遮光比就是在使用激光粒度儀測試樣品時,配置的樣品懸浮液的濃度,遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測試過程中的一個重要的步驟,遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴重關系到粒度測量結果的準確性和代表性。
激光粒度儀的測量原理要求在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握,因此在實際的粒度測試中,通過調整遮光比的數值來盡量保證顆粒之間不發生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%),遮光比過大時,顆粒的濃度過高,容易發生二次散射,測量結果誤差增大;遮光比過低,樣品中顆粒的濃度太低,顆粒數太少,測試結果的代表性很差,甚至可能導致測試結果是無效的,因此在激光粒度儀測試過程中,對遮光比的選取要通過反復試驗,以得到正確的測量結果。

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